镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜厚度的仪器。
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是检测产品是否达到优等质量标准的必要手段。
XRF分析其基本的无损性质，加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点，能实现现场分析并立即得到结果。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，X射线镀层测厚仪在向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向不断进步。
而实现 100% 检测是日常电镀操作重要但困难的环节。
它需要手动分析、做出决策，并完成复杂的测量设置。
事实上，72% 的 XRF(X 射线荧光)测试时间浪费在设置过程中。
2022年下午1400，化工仪器网联合日立分析仪器(上海)有限公司，推出《XRF镀层分析助力100%检测》专题讲座，日立分析仪器(上海)有限公司高级应用工程师董松林在线讲课，帮助观众更好地了解和运用XRF 镀层测厚仪。
在本次网络研讨会中，观众将了解如何通过 XRF 镀层测厚仪获得更多零件分析，同时减少操作员的工作量。
日立分析仪器将重点介可以在操作中使用的高级功能，包括仪器视觉、广域相机、自动对焦等，这些功能将有助于改进用户的 XRF 程序。
此外，观众还可以了解为工业 4.0 设计的连接功能，从而为将来做好准备。
关于日立分析仪器
日立分析仪器专注于高科技分析解决方案，帮助数以千计的企业降低成本，降低风险，提高生产效率。
公司基于实验室和强大的高性能现场测试仪器提供材料和涂层分析，为包括原材料勘探、来料检验、生产和质量控制以及回收利用在内的整个生产周期增值。
